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X射線鍍層膜厚儀

簡要描述:

X射線鍍層膜厚儀是一種高精度、非接觸式的測量設(shè)備,主要用于測量金屬電鍍層的厚度。其工作原理基于X射線穿透物體時(shí)強(qiáng)度衰減與物體厚度之間的相關(guān)性。該設(shè)備能夠快速、準(zhǔn)確地測量單層、多層及合金組合物的厚度,并具備多種測量功能,適用于環(huán)保、化工、電子等多個(gè)領(lǐng)域。

更新時(shí)間:2025-01-10

品牌ISP/韓國行業(yè)專用類型電子產(chǎn)品
重復(fù)性5%能量分辨率159或125eV
分析含量范圍0.1%-99.9%元素分析范圍13(Al)-92(U)
價(jià)格區(qū)間10萬-30萬儀器種類臺(tái)式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,化工,電子/電池測量時(shí)間1-120秒
可測層數(shù)多鍍層1-5層平臺(tái)移動(dòng)范圍200mm*200mm*5mm
  X射線鍍層膜厚儀是一種用于精密測量金屬電鍍層厚度的設(shè)備。其工作原理基于X射線穿過薄膜后,會(huì)根據(jù)薄膜的材料和厚度發(fā)生不同程度的吸收。膜越厚,吸收的X射線越多;膜越薄,則吸收的X射線越少。通過測量通過薄膜后的X射線強(qiáng)度的變化,可以得到薄膜的厚度信息。
 
  型 號(hào):iEDX-150WT
 
  生 產(chǎn) 商:韓國 ISP 公司
 
  特點(diǎn):該型儀器采用開槽式大平臺(tái)設(shè)計(jì),適合測試扁平狀大面積樣品,適合線路板及連接器行業(yè)的鍍層厚度管控。
 
       (一)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀產(chǎn)品優(yōu)勢
 
  1. 鍍層檢測,多鍍層檢測可達(dá)5層,精度及穩(wěn)定性高。
 
  2. 平臺(tái)尺寸:620*525mm,樣品移動(dòng)距離可達(dá) 110*110*5mm。(固定臺(tái)可選)
 
  3. 激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測量功能。
 
  4. 可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
 
  5. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低。
 
  6. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性,半定量分析。
 
  7. 操作簡單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測結(jié)果。
 
  8. 可針對客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
 
  9. 軟件升級(jí)。
 
  10. 無損檢測,一次性購買標(biāo)樣可長期使用。
 
  11. 使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間 24H 以內(nèi),提供*保姆式服務(wù)。
 
  (二)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀配置及技術(shù)指標(biāo)
 
  1. X 射線管:高穩(wěn)定性 X 光光管,微焦點(diǎn) X 射線管、Mo (鉬) 靶
 
  鈹窗口, 陽極焦斑尺寸 75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
 
  50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供良好性能。
 
  2. 探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)
 
  能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
 
  3. 濾光片/可選
 
  初級(jí)濾光片:Al濾光片,自動(dòng)切換
 
  7個(gè)準(zhǔn)直器:客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。
 
  (三)X射線鍍層測厚儀測量原理
 
 

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